IST870 / IST878 半导体快速检测分选测试仪

各种半导体器件快速检测与参数分选测试仪。IST870 可对各种半导体元器件提供快速完整的检验，使用者可以任意方向及排列插入被测件（插错插反均可），只需按下两个键即可快速测知该元件的功能好坏，自动识别各管脚的极性和排序及有无漏电流的可能性。

IST870 在漏电流上的测试原理，是以固定低电压源（30V）为偏压，当元件处于截止状态时加在其对应的管脚上，另一端则串入一极高灵敏度的电流计，可由 nA、µA 至 mA 共六档全自动换档，量程为 0nA 至 40mA，最高分辨力 1nA。

一般良好的半导体元件，当加在其上的电压接近或超越其崩溃电压时，漏电流才会急促加大。若测试结果达到微安或毫安级，而已知良品却很小，对应比较下可大致确认此被测件已呈老化或处于击穿状态。

IST870 除了对三极管、二极管、场效应管及可控硅以 300µS 的脉冲进行动态功能测试，若测试通过则自动进行漏电流测量；对稳压二极管或正/负稳压源同样可进行输出电压测量。

当元件被焊在电路板上时，可以三点探测器进行在线测试，此方式最适合表面贴装元件。

两个型号的差别在量程：870 受电压源限制，可测知被测件有否漏电问题；878 则可测至一般良品的最高耐压或漏电流极限值。